在俄亥俄州立大学安装的第一个NanoMill®TEM标本制备系统

第一款1040纳米^®TEM标本制备系统在俄亥俄州立大学安装。哈米什·弗雷泽教授之所以选择了这种纳米颗粒，是因为它具有独特的能力，能够制作出最高质量的TEM样品，用于在纠正了FEI像差的Titan 80-300中成像和分析。