NanoMill®TEM样品制备系统获得第二项美国专利

2009年3月31日

美国专利和商标局授予了1040型号纳米微粒的第7,504,623号专利®TEM样品制备系统。这是该仪器获得的第二项专利,清楚地展示了该产品提供的创新技术。